出　　处：X-Ray Optics and Instrumentation. 2008 ;2008:i-ii.doi:10.1155/1993/69351

出 版 社：Hindawi Publishing Corporation

文 章 ID：27721767

作　　者：Erik Fredenberg ;Björn Cederström ;Magnus Åslund 等

出　　处：X-Ray Optics and Instrumentation. 2008 ;2008.doi:10.1155/2008/635024

出 版 社：Hindawi Publishing Corporation

文 章 ID：27721768

作　　者：Walter M. Gibson ;Z. W. Chen ;Danhong Li

出　　处：X-Ray Optics and Instrumentation. 2008 ;2008.doi:10.1155/2008/709692

出 版 社：Hindawi Publishing Corporation

文 章 ID：27721769

作　　者：Scott T. Misture

出　　处：X-Ray Optics and Instrumentation. 2008 ;2008.doi:10.1155/2008/408702

出 版 社：Hindawi Publishing Corporation

文 章 ID：27721770

作　　者：Zhihua Qi ;Guang-Hong Chen

出　　处：X-Ray Optics and Instrumentation. 2008 ;2008.doi:10.1155/2008/835172

出 版 社：Hindawi Publishing Corporation

文 章 ID：27721771

作　　者：Anette Vickery ;Carsten P. Jensen ;Finn E. Christensen 等

出　　处：X-Ray Optics and Instrumentation. 2008 ;2008.doi:10.1155/2008/792540

出 版 社：Hindawi Publishing Corporation

文 章 ID：27721772

作　　者：Z. W. Chen ;Walter M. Gibson ;Huapeng Huang

出　　处：X-Ray Optics and Instrumentation. 2008 ;2008.doi:10.1155/2008/318171

出 版 社：Hindawi Publishing Corporation

文 章 ID：27721773

作　　者：Christian Morawe ;Markus Osterhoff

出　　处：X-Ray Optics and Instrumentation. 2010 ;2010.doi:10.1155/2010/479631

出 版 社：Hindawi Publishing Corporation

文 章 ID：33224905

作　　者：Sheng Yuan ;Matthew Church ;Valeriy V. Yashchuk 等

出　　处：X-Ray Optics and Instrumentation. 2010 ;2010.doi:10.1155/2010/784732

出 版 社：Hindawi Publishing Corporation

文 章 ID：33224907

作　　者：Michael J. Haugh ;Richard Stewart

出　　处：X-Ray Optics and Instrumentation. 2010 ;2010.doi:10.1155/2010/583626

出 版 社：Hindawi Publishing Corporation

文 章 ID：33224908