其他摘要：Los efectos de la radiación ionizante sobre los componentes de la electrónica espacial, en particular las consecuencias de las dosis acumuladas, son muy significativos. Una desviación progresiva en los valores de los parámetros circuitales por estas causas, conducen a la degradación del desempeño de la aplicación completa. En los sistemas espaciales se debe recurrir a un test periódico que permita en todo momento determinar si los componentes se han degradado lo suficiente como para poner en peligro dichas aplicaciones. La simplicidad conceptual del denominado test por análisis de transitorio (TRAM), en conjunción con las magnitudes relativamente simples de medir, lo hacen sumamente atractivo para aplicaciones de test en campo. En este trabajo, utilizando un modelo de falla basado en especificaciones, se analiza la capacidad de distintos atributos de test para la detección de fallas, adoptando como casos de estudio dos filtros de tiempo continuo de segundo orden. Debido a que las aplicaciones que se persiguen son las espaciales, la atención se centrará en maximizar la cobertura de fallas. Para los casos considerados los resultados de simulación de fallas indican que TRAM puede alcanzar una excelente cobertura de fallas, con lo que su empleo en aplicaciones de alta criticad es interesante. No obstante, una alta probabilidad de falsos positivos podría complicar la aplicación de esta estrategia
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